JavaScript is disabled. Please enable to continue!
Mobile search icon
Materials and Engineering Sciences >> Nos techniques >> ICP-OES

ICP-OES

WE KNOW HOW™

La spectroscopie d'émission optique à plasma à couplage inductif (ICP-OES) peut fournir une composition élémentaire quantitative en vrac d'une grande variété de types d'échantillons, y compris des poudres, des solides, des liquides et des suspensions. Les échantillons solides sont généralement dissous ou digérés à l'aide d'une combinaison d'acides dans un système micro-ondes fermé, retenant ainsi les espèces d'analytes potentiellement volatiles. La solution d'échantillon résultante est ensuite nébulisée dans le cœur d'un plasma d'argon à couplage inductif, où des températures d'environ 9000 XNUMX K sont atteintes. À de telles températures élevées, la solution nébulisée est vaporisée et les espèces d'analyte sont atomisées, ionisées et excitées thermiquement. L'espèce d'analyte peut ensuite être détectée et quantifiée avec un spectromètre d'émission optique (OES), qui mesure l'intensité du rayonnement émis à la longueur d'onde caractéristique spécifique à l'élément à partir d'atomes ou d'ions d'analyte excités thermiquement. Les mesures d'intensité sont converties en concentration élémentaire par comparaison avec des normes d'étalonnage. Cette technique est particulièrement puissante pour l'analyse chimique quantitative lorsque les normes ne sont pas disponibles.

Utilisations idéales de l'ICP-OES

  • Quantitatif en vrac analyse chimique des éléments majeurs, mineurs et traces dans les solides, les liquides et les suspensions
  • Détermination précise et précise des éléments majeurs et mineurs dans une large gamme de matériaux
  • Contrôle de la qualité et contrôle des processus, et recherche et développement

Nos points forts

  • Une gamme d'éléments peut être mesurée en un seul cycle d'analyse
  • La plage dynamique linéaire utile est sur plusieurs ordres de grandeur
  • L'utilisation d'un système d'introduction d'échantillons sans quartz permet la détermination de faibles niveaux de silicium et de bore
  • L'analyse peut être automatisée, améliorant l'exactitude, la précision et le débit d'échantillons
  • La combinaison de l'ICP-OES et ICP-MS est très puissant pour déterminer une large gamme de concentrations élémentaires, des composants principaux aux composants à l'état de traces (généralement sous-ppb) avec une grande précision et précision

Limites

  • La portion d'échantillon à analyser doit être complètement digérée ou dissoute avant l'analyse
  • Spectre d'émission peut être complexe et des interférences spectrales sont possibles si la longueur d'onde de l'élément d'intérêt est très proche ou chevauche celle d'un autre élément
  • Les effets liés à la matrice peuvent créer des problèmes de quantification
  • Le carbone, l'azote, l'hydrogène, l'oxygène et les halogènes ne peuvent pas être déterminés à l'aide de cette technique

Spécifications techniques de l'ICP-OES

  • Signal détecté: photon
  • Exigence de la taille de l'échantillon: 250 mg à 1 gramme d'échantillon solide ; les volumes de solution typiques vont de 2 à 10 ml
  • Gamme d'éléments détectés: Du lithium (numéro atomique 3) à l'uranium (numéro atomique 92), sauf les gaz, les halogènes, les faibles niveaux de phosphore et de soufre
  • Limites de détection typiques: Parties par milliard en solution
  • Résolution en profondeur: Technique d'analyse chimique en vrac
  • Analyse résolue spatialement: Non
  • Imagerie / Cartographie: Ns